日置阻抗分析仪IM3570-深圳市云帆兴烨科技有限公司
产品描述
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
测量模式 | LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量 |
测量参数 | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
测量量程 | 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) |
显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值 |
基本精度 | Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
测量频率 | 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进) |
测量信号电平 | V模式,CV模式(普通模式) |
输出阻抗 | 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω |
显示 | 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF |
测量时间 | 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值) |
测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
其他功能 | DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能 |